La strumentazione di diffrazione a raggi X consta di un diffrattometro a raggi X multipurpose (EMPYREAN) e di un sistema a basso angolo (SAXS) per l'analisi di materiali nanostrutturati per conoscere le proprietà microstrutturali che influenzano le prestazioni in applicazioni reali. Sono studiati varie classi di materiali come metalli, semiconduttori, organici-inorganici, compositi, multistrato.