La spettroscopia fotoelettronica a raggi X (XPS) è una tecnica di analisi superficiale ampiamente utilizzata che fornisce informazioni qualitative e quantitative sullo stato elementare e chimico dei primi 10-30 strati di un materiale solido sotto forma di film sottili, polveri, fibre , rivestimenti o più in generale di interfacce tra due materiali eterogenei come i multistrati.
