l laboratorio è dotato di diversi strumenti specificamente dedicati alla caratterizzazione delle proprietà funzionali di materiali termoelettrici bulk e a film sottile.
Sistema HCS1: progettato per la misura del coefficiente di Hall e della conducibilità elettrica in configurazione VdP, per film sottili depositati su vari tipi di substrati non conduttivi.
Thin Film Analyzer (TFA): configurato per la completa caratterizzazione termoelettrica (conducibilità elettrica e termica, coefficiente di Seebeck) di film sottili depositati su chip prestrutturati.
Sistema Laser Flash (LFA) per la misura della Diffusività Termica di materiali sfusi.
E' inoltre in fase di realizzazione un nuovo sistema per la caratterizzazione di dispositivi termoelettrici (TEG) mediante acquisizione di curve IV. Infine, la strumentazione di laboratorio è completata da un simulatore solare a fascio orientabile e da un sistema Zhaner per l'acquisizione di curve IV, misure di efficienza quantistica (IPCE) di celle solari e spettroscopia di impedenza.
